Обсуждаемые в ходе симпозиума проблемы отразили новые тенденции в тестировании, отладке и диагностике микроэлектронных схем и систем. В рамках мероприятий было представлено 147 регулярных докладов, в том числе 80 – участниками из Восточной Европы, 67 – из Западной. Также следует отметить, что из общего количества докладов 45 подготовлены студентами.
Большой интерес участников симпозиума вызвали выступления руководителей и научных сотрудников всемирно известных компаний Keynotes and Invited speakers, IBM, Intel, Xilinx, Synopsys.
В работе этого масштабного научного форума приняли участие представители ВятГУ, выступившие с докладами “Использование избыточности в структурном синтезе рекурсивных фильтров” (ст. преподаватель кафедры РЭС Т.В.Наумович) и “Аппроксимация центрального распределения хи-квадрат для онлайн вычисления порога энергетического детектора” (доцент кафедры РЭС В.А.Лесников). Оба доклада получили высокую оценку и были отмечены дипломами.
Участие в симпозиуме такого масштаба еще раз подтвердило соответствие научных кадров ВятГУ высоким стандартам, а также их успехи в разработке проблем, относящихся к кругу актуальных в современном научном контексте.
